检测项目
1.微观形貌检测:颗粒外观,表面起伏,边缘轮廓,团聚形态,断口形貌
2.粒径特征检测:一次颗粒粒径,二次团聚粒径,粒径分布,颗粒均匀性,粗细颗粒比例
3.颗粒结构检测:颗粒完整性,颗粒分散状态,颗粒圆整度,颗粒长径比,颗粒堆积状态
4.孔隙特征检测:孔隙形态,孔隙尺寸,孔隙分布,开口孔情况,闭口孔情况
5.表面状态检测:表面粗糙特征,表面附着物,表面裂纹,表面缺陷,表面洁净度
6.截面组织检测:截面致密性,层间结合状态,内部缺陷,裂纹扩展路径,组织均匀性
7.元素组成检测:铝元素分布,氧元素分布,杂质元素检出,局部富集情况,元素均匀性
8.相区分布检测:不同相区形貌,相界特征,局部异常相,相区连通性,组织分布状态
9.夹杂与异物检测:无机夹杂,外来颗粒,烧结异常物,表面残留物,内部异物
10.烧结质量检测:烧结颈发育情况,颗粒结合程度,致密化状态,晶粒连接特征,烧结缺陷
11.破坏失效检测:脆性断裂特征,裂源位置,缺陷诱发区,剥落区域,失效部位微观证据
12.涂层与复合界面检测:涂层连续性,界面结合状态,界面缺陷,厚度均匀性,分层情况
检测范围
氧化铝粉末、煅烧氧化铝、活性氧化铝、球形氧化铝、超细氧化铝、高纯氧化铝、氧化铝陶瓷、氧化铝基片、氧化铝坩埚、氧化铝研磨球、氧化铝耐火材料、氧化铝涂层、氧化铝薄片、氧化铝烧结体、氧化铝颗粒、氧化铝复合材料
检测设备
1.扫描电子显微镜:用于观察氧化铝样品表面形貌、颗粒结构、断口特征和孔隙分布。
2.透射电子显微镜:用于分析更高分辨尺度下的颗粒细节、内部结构和局部微区特征。
3.能谱分析仪:用于开展微区元素定性与分布分析,识别杂质元素及其富集区域。
4.离子减薄设备:用于制备薄区样品,满足微观内部结构观察需求。
5.精密切割机:用于样品定向切割与取样,便于截面形貌和内部组织检测。
6.镶嵌设备:用于固定不规则或微小样品,提升后续截面制备的稳定性。
7.研磨抛光机:用于制备平整样品表面和截面,减少制样过程对微观结构的干扰。
8.喷镀仪:用于在样品表面形成导电层,改善电镜观察时的成像稳定性。
9.超声清洗器:用于去除样品表面松散附着物和制样残留,保持观察区域清洁。
10.图像分析系统:用于对颗粒尺寸、孔隙比例、缺陷数量和分布状态进行统计分析。
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。